簡介
SPC管制圖是極具有功效的管制工具之一,用以偵測品質變異的原因,然後采取對策以消除其原因,使生産過程恢複正常。
SPC管制圖是由三條管制界限,即中心線,上管制界限及下管制界限組成的圖形,并将生産過程中所獲得的統計量繪入圖中,以判定其為管制中抑管制外,如果其狀況是屬于管制中時,顯示生産過程的變異行為掌握在我們的預知中,繼續生産.但若其狀況是屬于管制外,則顯示其變異情況已超出我們的控制外,必須控讨其發生的原因,采取對策以矯正之。
定義
控制圖是用于分析和控制過程質量的一種方法。控制圖是一種帶有控制界限的反映過程質量的記錄圖形,圖的縱軸代表産品質量特性值(或由質量特性值獲得的某種統計量);橫軸代表按時間順序(自左至右)抽取的各個樣本号;圖内有中心線(記為CL)、上控制界限(記為UCL)和下控制界限(記為LCL)三條線。
目的
控制圖和一般的統計圖不同,因其不僅能将數值以曲線表示出來,以觀其變異之趨勢,且能顯示變異屬于偶然性或非偶然性,以指示某種現象是否正常,而采取适當的措施。
基本特性
一般控制圖縱軸均設定為産品的質量特性,而以過程變化的數據為刻度;橫軸則為檢測産品的群體代碼或編号或年月日等,以時間别或制造先後别,依順序點繪在圖上。
在管制圖上有三條筆直的橫線,中間的一條為中心線(CentralLine,CL),一般用藍色的實線繪制;在上方的一條稱為控制上限(UpperControlLimit,UCL);在下方的稱為控制下限(LowerControlLimit,LCL)。對上、下控制界限的繪制,則一般均用紅色的虛線表現,以表示可接受的變異範圍;至于實際産品質量特性的點連線條則大都用黑色實線繪制。
原理
工序處于穩定狀态下,其計量值的分布大緻符合正态分布。由正态分布的性質可知:質量數據出現在平均值的正負三個标準偏差(X3)之外的概率僅為0.27%。這是一個很小的概率,根據概率論“視小概率事件為實際上不可能”的原理,可以認為:出現在X3區間外的事件是異常波動,它的發生是由于異常原因使其總體的分布偏離了正常位置。
控制限的寬度就是根據這一原理定為3。
分類
管制圖也叫控制圖,按照分布分為正态分布、用于計量值,二項分布、用于計件值,泊松分布、用于計點值。
表一,分為計量及計數兩類,計量管制圖可以顯現制程上的異常問題,而計數管制圖則用于管制整體品質狀況好壞。除此之外,可以應用「直方圖」了解資料分布情形,或「柏拉圖」整理各類主要報廢或缺點原因。
常用管制圖類别管制圖說明
計量值XBar–RChart平均值與全距管制圖
XBar–SChart平均值與标準差管制圖
X–RmChart個别值與移動全距管制圖
計數值PChart不良率管制圖
PnChart不良數管制圖
CChart缺點數管制圖
UChart單位缺點數管制圖
「管制圖」:是實施質量管理作業時,最有效最快速的工具之一,它是美國品管大師博士應用統計數學理論于年所設計的,
它不但能控制制程中質量,且能分析判定制程能力,更可作為新産品設計及制成品驗收時的參考。簡單說,在
生産過程中,從設計、制造到過程檢驗三個階段,皆需用到它,企業如能有效運用此質量知識,便能确保其
在市場上的競争優勢。
種類
按數據性質分類
計量型控制圖
平均數與極差控制圖(Chart)
平均數與标準差控制圖(Chart)
中位數與極差控制圖(Chart)
個别值與移動極差控制圖(chart)
計數值控制圖
不良率控制圖(Pchart)
不良數控制圖(nPchart,又稱npchart或dchart)
缺點數控制圖(Cchart)
單位缺點數控制圖(Uchart)
用途分類
分析用控制圖:根據樣本數據計算出控制圖的中心線和上、下控制界限,畫出控制圖,以便分析和判斷過程是否處于于穩定狀态。如果分析結果顯示過程有異常波動時,首先找出原因,采取措施,然後重新抽取樣本、測定數據、重新計算控制圖界限進行分析。
控制用控制圖:經過上述分析證實過程穩定并能滿足質量要求,此時的控制圖可以用于現場對日常的過程質量進行控制。
界限
規格界限:是用以規定質量特性的最大(小)許可值。
上規格界限:USL;下規格界限:LSL;。
控制界限:是從實際生産出來的産品中抽取一定數量的産品,并進行檢測,從所得觀測值中計算出來者。
上控制界限:UCL;下控制界限:LCL;
建立步驟
1.選擇質量特性
2.決定管制圖之種類
3.決定樣本大小,抽樣頻率和抽樣方式
4.收集數據
5.計算管制參數(上,下管制界線等)
6.持續收集數據,利用管制圖監視制程
構成要素
一般構成控制圖的要素有:
1.控制圖的數據具有時間先後順序,不得溷亂颠倒,亦即應依取得(生産)的先後順序排列并繪成圖形,亦即一連串的數據為含有時間序列的特性。
2.控制圖上一連串的點子必有波動現象,乃此因變異所引起,變異原因分為兩大類,一為機遇原因,一為非機遇原因,非機遇原因引發的大幅度波動現象影響品質較大應避免之,亦即波動現象愈大,品質愈不穩定,管制上下限的寬度将愈寬,此時構成圖上點的個别值散布範圍亦較大,如與規格比較,較易逸出規格界限外成為不良品。
3.控制圖必須含有統計界限,亦即管制上下限,沒有統計的管制上下限不符合控制圖原理。通常μ±3σ之管制上限,其橫坐标為時間(即組别),縱坐标為品質的刻度。
使用場合
1.X-R控制圖
用于控制對象為長度、重量、強度、純度、時間、收率和生産量等計量值的場合。X控制圖主要用于觀察正态分布的均值的變化,R控制圖主要用于觀察正态分布分散或變異情況的變化,而X-R控制圖則将二者聯合運用,用于觀察正态分布的變化。
2.X-s控制圖
與X-R圖相似,隻是用标準差(s)圖代替極差(R)圖而已。
3.Me-R控制圖
與X-R圖也很相似,隻是用中位數(Me)圖代替均值(X)。
4.X-Rs控制圖
多用于對每一個産品都進行檢驗,采用自動化檢查和測量的場合。
5.p控制圖
用于控制對象為不合格品率或合格品率等計數質量指标的場合,使用p圖時應選擇重要的檢查項目作為判斷不合格品的依據;它用于控制不合格品率、交貨延遲率、缺勤率、差錯率等。
6.np控制圖
用于控制對象為不合格品數的場合。設n為樣本,p為不合格品率,則np為不合格品數。
7.c控制圖
用于控制一部機器,一個部件,一定長度,一定面積或任何一定的單位中所出現的不合格數目。焊接不良數/誤記數/錯誤數/疵點/故障次數
8.u控制圖
當上述一定的單位,也即n保持不變時可以應用c控制圖,而當n有變化時則應換算為平均每項單位的不合格數後再使用u控制圖。



















